双向可控硅好坏判断

　　方法一：

　　测量极间电阻法。将万用表置于皮Rx1k档，如果测得T2-T1、T2-G之间的正反向电阻接近∞，而万用表置于Rx10档测得T1-G之间的正反向电阻在几十欧姆时，就说明双向可控硅是好的，可以使用;反之，若测得T2-T1，、T2-G之间的正反向电阻较小甚或等于零，而T1-G之间的正反向电阻很小或接近于零时，就说明双向可控硅的性能变坏或击穿损坏。不能使用;如果测得T1-G之间的正反向电阻很大（接近∞）时，说明控制极G与主电极T1之间内部接触不良或开路损坏，也不能使用。

　　方法二：

　　检查触发导通能力。万用表置于Rx10档：①如图，1（a）所示， 用黑表笔接主电极T2，红表笔接T1，即给T2加正向电压，再用短路线将G与T1（或T2）短接一下后离开，如果表头指针发生了较大偏转并停留在一固定位置，说明双向可控硅中的一部分（其中一个单向可控硅）是好的，如图1（b）所示， 改黑表笔接主电极T1，红表笔接T2，即给T1加正向电压，再用短路线将G与T1（或T2）短接一下后离开，如果结果同上，也证明双向可控硅中的另一部分（其中的一个单向可控硅是好的。测试到止说明双向可控硅整个都是好的，即在两个方向（在不同极性的触发电压证）均能触发导通。

　方法三：

　　检查触发导通能力。如图2所示，取一只10uF左右的电解电容器，将万用表置于Rx10k档（V电压），对电解电容器充电3~5s后用来代替图1中的短路线，即利用电容器上所充的电压作为触发信号，然后再将万用表置于Rx10档，照图2（b）连接好后进行测试。测试时，电容C的极性可任意连接，同样是碰触一下后离开，观察表头指针偏转情况，如果测试结果与“方法二’相同，就证明双向可控硅是好的。

　应用此法判断双向可控硅的触发导通能力更为可靠。由于电解电容器上充的电压较高，使触发信号增大，更利于判断大功率双向可控硅的触发能力。